传感器与微系统平台
平台主任:杜利东
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平台概况
平台建有1300平方米超净间,拥有一条完整的微电子机械系统(MEMS)加工工艺线,具有先进的MEMS加工、封装和测试设备,形成了整套的加工工艺规范,具备各种硅基和非硅基的微结构器件的加工和测试能力。关键MEMS 加工和测试设备包括:清洗腐蚀台、双面光刻机、硅深刻蚀机、RIE、电子束蒸发台、离子束刻蚀机、磁控溅射镀膜设备、ICP-CVD、LPCVD、多腔室金属薄膜沉积设备、氮化铝溅射设备、paralyne溅射设备、阳极键合机、引线键合机、激光划片机、快速退火炉、台阶仪、探针台、薄膜应力分析仪、椭偏仪、SEM、LSM、AFM、红外显微镜、轮廓仪、显微振动分析系统、无液氦综合测试系统、激光焊接机等,可对外提供微纳加工、测试和封装服务。
金属薄膜快速沉积系统 美国丹顿金属薄膜快速沉积系统,型号Discovery-635,可进行金属材料(Au、Pt、Cr、Ti)等材料的薄膜制备。 |
电子束蒸发系统 日本Ferrotec电子束蒸发系统,型号BJD-2000,可进行金属材料(Au、Pt、Cr、Ti)等材料的薄膜制备。 |
2014年11月验收,同时投入使用 |
2021年验收,同时投入使用 |
薄膜沉积系统 美国LESKER薄膜沉积系统,型号AXXIS,可进行氧化锌薄膜制备。 |
电子束蒸发系统 沈科仪电子束蒸发系统,型号EB-700,可进行金属材料(Al)等材料的薄膜制备。 |
2006年3月验收,同时投入使用 |
正在验收 |
氮化铝物理气相沉积设备 美国AMS氮化铝溅射设备,型号AM220,可进行氮化铝薄膜制备。 |
介质薄膜气相沉积设备 德国SENTECH的介质薄膜气相沉积设备,型号SI-500D,可进行低温氧化硅、氮化硅薄膜制备。 |
正在验收 |
2020年验收并投入使用 |
低压化学气相沉积系统 日本thermco低压化学气相沉积系统,型号X60,可进行氧化硅、氮化硅薄膜沉积。 |
多功能磁控溅射设备 日本ULVAC公司多功能磁控溅射设备,型号QAM-4W,可进行金属溅射。 |
2021年验收并投入使用 |
2021年验收并投入使用 |
硅深刻蚀系统 法国Alcatel深硅刻蚀系统,型号AMS-100,可进行硅衬底的高深宽比刻蚀。 |
硅深刻蚀系统 英国SPTS深硅刻蚀系统,型号Omega Lpx Rapier,可进行硅衬底的高深宽比刻蚀。 |
2006年3月验收,同时投入使用 |
2021年验收,同时投入使用 |
介质薄膜刻蚀系统 北方华创介质薄膜刻蚀系统,型号GSE C200,可进行氧化硅、氮化硅介质薄膜刻蚀。 |
硅深刻蚀系统 北方华创深硅刻蚀系统,型号HSE M200,可进行硅衬底的高深宽比刻蚀。 |
2021年验收,同时投入使用 |
2021年验收,同时投入使用 |
离子束刻蚀机 北方埃德万斯离子束刻蚀机,型号IBE-150,可进行金属薄膜刻蚀。 |
紫外激光精细加工设备 苏州德龙紫外激光精细加工设备,型号FP-D-DZS-001,可进行激光切割和激光图形化。 |
2017年验收,同时投入使用 |
2013年验收,同时投入使用 |
激光焊接机 大族激光激光焊接机,可进行管壳焊接。 |
磁场退火炉 北京东方晨景磁场退火炉,可进行磁场环境下退火工艺。 |
2022年验收,同时投入使用 |
2020年验收,同时投入使用 |
划片机 法国DISCO划片机,型号DAD3221可进行芯片切割。 |
真空退火炉 法国ANNEALSYS真空退火炉,可进行真空退火工艺。 |
2012年验收,同时投入使用 |
2020年验收,同时投入使用 |
无液氦综合测试系统 美国Quantum Design公司无液氦综合测试系统,可进行低温特性测试。 |
低温探针测试系统 美国Lake Shore.,型号CRX-VF, 可进行低温特性测试。 |
正在验收 |
2020年验收并投入使用 |
ABM光刻机 美国ABM公司光刻机,可进行光刻胶曝光。 |
MA/BA6光刻机 德国SUss公司,MA/BA6光刻机,可进行光刻胶曝光。 |
2011年验收并使用 |
2017年验收并使用 |
键合机 德国SUss公司,SB6e键合机,可进行键合工艺2017年验收并使用。 |
纳米压印机 青岛天仁微纳科技GL8 CLIV纳米压印机,可进行纳米压印工艺。 |
2017年验收并使用 |
2020年验收并使用 |
光谱式椭偏仪 美国J.A.Woollam公司光谱式椭偏仪,型号M-2000DI,可进行薄膜参数测试。 |
高温四点探针台 台湾奕叶高温四点探针台,型号SR-4可进行硅片参数测试。 |
2013年验收并使用 |
2013年验收并使用 |
薄膜应力测试仪 日本toho公司薄膜应力测试仪,型号FLX2320S,可进行薄膜应力测试。 |
原子力显微镜 美国Bruker公司原子力显微镜,型号Multimode 8,可进行表面形貌测试。 |
轮廓仪 德国布鲁克公司轮廓仪,型号ontourGT-Κ,可进行3D形貌测试。 |
红外显微镜 日本奥林巴斯公司红外显微镜,型号BX53M,可进行芯片内部结构测试分析。 |
2022年验收并使用 |
2022年验收并使用 |
显微振动分析系统 瑞士Lyncee Tec公司显微振动分析系统,型号DHMR2204,可进行振动结构3D测试。 |
激光测振仪 德国PolyTec公司激光测振仪,型号MSA-600,可进行振动结构2D测试。 |
2022年验收并使用 |
2021年验收并使用 |
扫描电子显微镜(大) 日本日立公司扫描电子显微镜,型号S-4800,进行参数及形貌测量。 |
扫描电子显微镜(小) 日本日立公司扫描电子显微镜,型号TM-3000,进行参数及形貌测量。 |
2011年验收并使用 |
2011年验收并使用 |
全内反射荧光显微镜 尼康公司全内反射荧光显微镜,型号Ti E TIRF,可进行荧光测量。。 |
台阶仪 美国台阶仪,型号ASIQ,可进行结构参数测试。 |
2009年验收并使用 |
2010年验收并使用 |
平台成员
实验室成员:杜利东,副研究员,平台总体运行管理。 | |
实验室成员:熊菲,实验员,平台刻蚀区设备操作及管理。 |
服务项目:
1、薄膜生长及沉积工艺
2、深硅刻蚀、介质薄膜刻蚀、金属薄膜刻蚀工艺
3、薄膜材料及微纳结构表征测试
4、微传感器裂片、封装工艺
传感器与微系统平台拥有40余台加工、测试以及封装设备,用户需要提前通过邮件进行预约申请并注明详细工艺参数,通过申请后的用户可将样品送至实验室进行加工测试。
收费须知:
欢迎来访
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